eng
Содержание
ПРЕДИСЛОВИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1.
ПРОБЛЕМЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА В ПРОЕКТИРОВАНИИ И
ПРОИЗВОДСТВЕ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХСРЕДСТВ
1.1.
Показатели качества РЭС, способы их оценки и классификация
1.2.
Классификация радиоэлектронных средств
1.3.
Факторы влияющие на работоспособность РЭС
1.3.1.
Субъективные факторы.
1.3.2.
Объективные факторы
1.4.
Общие технические требования к радиоэлектронным средствам
1.5.
Методы стандартизации в решение проблем обеспечения качества РЭС
1.6.
Основные теоретические принципы построения систем управления качеством РЭС
1.7.
Основные принципы практического построения систем управления качеством РЭС
ГЛАВА 2.
ОБЩИЕ ПРИНЦИПЫ ОРГАНИЗАЦИИ И
ТЕХНОЛОГИИ ИСПЫТАНИЙ РЭС
2.1.
Цели и задачи испытаний РЭС
2.2.
Классификация видов, методов и технологии испытаний
2.3.
Общие принципы проведения испытаний РЭС
2.4.
Планирование испытаний
2.5.
Выбор объектов испытаний
2.6.
Основные разделы программы испытаний
2.7.
Взаимосвязь программ испытаний
2.8.
Общие принципы построения и содержания методики испытаний
ГЛАВА 3.
МЕТОДИКА И ТЕХНОЛОГИЯ ПРОВЕДЕНИЯ
ИСПЫТАНИЙ НА КЛИМАТИЧЕСКИЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ.
3.1.
Особенности методики испытаний
3.2.
Испытания на температурные воздействия
3.2.1.
Испытания на повышенную температуру
3.2.2.
Испытания на пониженную температуру
3.2.3.
Испытания на изменение температуры
3.3.
Испытания на воздействие инея и росы
3.4.
Испытания на воздействие повышенной влажности
3.5.
Испытания на воздействие солнечного излучения
3.6.
Испытания на воздействие пыли
3.7.
Испытания на воздействие атмосферного давления
3.8.
Испытания на воздействие повышенного гидростатического давления
3.9.
Испытания на воздействие соляного тумана
3.10.
Испытания на внешнее воздействие воды
3.11.
Испытания на ветроустойчивость
3.12.
Испытания на герметичность
3.13.
Испытания на биологические воздействия
3.14.
Специальные виды космических испытаний
ГЛАВА 4.
МЕТОДИКА И ТЕХНОЛОГИЯ ПРОВЕДЕНИЯ ИСПЫТАНИЙ РЭС
НА МЕХАНИЧЕСКИЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ
4.1.
Общая структура и методические принципы проведения испытаний
4.2.
Испытания на определение резонансных частот конструкции
4.3.
Испытания на наличие резонансных частот конструкции в заданном диапозоне частот
4.4.
Испытания на виброустойчивость и вибропрочность.
4.5.
Испытания на ударную прочность
4.6.
Испытания на воздействие линейного ускорения
4.7.
Испытания на воздействие акустического шума.
ГЛАВА 5.
МЕТОДИКА И ТЕХНОЛОГИЯ ПРОВЕДЕНИЯ
РАДИАЦИОННЫХ ИСПЫТАНИЙ РЭС.
5.1.
Виды ионизирующих излучений воздействующих на РЭС
5.2.
Радиационная стойкость
5.3.
Особенности воздействия ионизирующих излучений на материалы и элементы РЭС
5.4.
Методика проведения радиационных испытаний
ГЛАВА 6.
ТЕХНИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА
В ПРОЦЕССАХ ИСПЫТАНИЙ РЭС
6.1.
Основные понятия и определения технической диагностики
6.2.
Оценка состояний РЭС методом теории информации
6.3.
Оценка состояний РЭС методами математической логики
6.4.
Оценка состояний РЭС методами интегральной диагностики
6.5.
Методы поиска отказов в РЭС
ГЛАВА 7.
ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ РЭС
7.1.
Основные термины и определения
7.2.
Показатели надежности
7.3.
Оценка надежности РЭС вероятностными методами
7.4.
Способы повышения надежности РЭС
7.5.
Методы определения точенных и интервальных оценок показателей надежности
ГЛАВА 8.
СТАТИСТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЯ
РЭС НА НАДЕЖНОСТЬ
8.1.
Особенности организации испытаний РЭС на надежность
8.2.
Использование системы контроля качества для достижения высокой надежности РЭС
8.3.
Ускоренные испытания РЭС на надежность
8.4.
Краткая характеристика надежности элементов РЭС
8.5.
Условия проведения форсированных испытаний на надежность
8.6.
Контроль показателей надежности при заданных планах испытаний
8.7.
Методом последовательных испытаний РЭС на надежность
ГЛАВА 9.
МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА РЭС
9.1.
Классификация методов контроля качества РЭС
9.2.
Методы неразрушающего контроля
9.2.1.
Акустические методы
9.2.2
Капиллярные методы
9.2.3.
Электрохимические методы
9.2.4.
Оптический контроль
9.2.5.
Электрические методы
9.2.6.
Магнитные методы
9.2.7.
Электромагнитные методы
9.2.8.
Тепловые методы
9.2.9.
Радиоволновые методы
9.2.10.
Радиацонные методы
9.2.11.
Методы электронной микроскопии (ЭМ)
9.2.12.
Ренгеновские методы (РМ)
ГЛАВА 10.
МАТЕМАТИКО – СТАТИСТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ
КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА РЭС
10.1.
Основные принципы и определения
10.2.
Статистический контроль по качественным показателям
10.3.
Статистический контроль по количественным показателям
10.4.
Табличный метод оценки достоверности статистических данных
10.5.
Вероятностное описание результатов статистического контроля
10.6.
Требования к оценкам контролируемых величин
10.7.
Законы распределения случайных величин
10.8.
Экспериментальное определение закона распределения
10.9.
Идентификация закона распределения
ГЛАВА 11.
ОСОБЕННОСТИ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА
ЦИФРОВЫХ УСТОЙСТВ РЭС
11.1.
Общие принципы оценки качества цифровых устройств РЭС
11.2.
Классификация элементов цифровых РЭС
11.2.1.
Логические элементы цифровых РЭС
11.2.2.
Логические элементы ТТЛ – типа
11.2.3.
Логические элементы ЭСЛ – типа
11.2.4.
Логические элементы на МОП структурах
11.2.5.
Триггеры интегральных схем
11.3.
Технологические характеристики и контролируемые параметры ИМС
11.4.
Методы контроля статических и динамических параметров ИМС
11.5.
Генератор тест – последовательности
11.6.
Структурная схема сигнатурного анализатора
11.7.
Принципы формирования 16 – разрядной сигнатуры
11.8.
Обнаружение ошибок сигнатурного анализа
11.9.
Особенности применения сигнатурных анализаторов
11.10.
Метод логического анализа
11.11.
Структурная схема анализатора логических состояний
11.12.
Анализатор потока цифровых данных
ГЛАВА 12.
СТАТИСТИЧЕСКИЕ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ
КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
ПРОИЗВОДСТВА РЭС
12.1.
Точечные и интервальные оценки контролируемых величин
12.2.
Определение объема выборки
12.3.
Контроль технологических процессов с помощью среднего значения выборки
12.4.
Статистическое регулирование качества технологических процессов
12.5.
Оценка состояния технологических процессов производства с помощью контрольных карт
12.6.
Контроль процесса фотолитографии в производстве ГПИС
12.7.
Методы контроля удельных сопротивлений полупроводниковых структур
Приложения
Список литературы